黄仁勋称Blackwell芯片曾存在设计缺陷：靠台积电力挽狂澜！

10月23日讯 英伟达 CEO 黄仁勋于当地时间周三在访问丹麦时表示：该公司最新的 Blackwell 芯片曾存在设计缺陷，“Blackwell 芯片可以正常使用，但良率很低。”他还表示，这一缺陷“100% 是英伟达的错”，后来全靠台积电的协助才得以从这一挫折中恢复过来，并“以惊人的速度”恢复工作。除此之外，他还提到欧盟在 AI 投资方面远远落后于美国和中国。值得一提的是，黄仁勋在丹麦推出了一台名为 Gefion 的新型超级计算机。这台超级计算机由英伟达与诺和诺德基金会（ Novo Nordisk Foundati...